sem和tem都可以用來分析材料的顯微結構，其原理和應用特性

1樓：匿名使用者

xrd可以做定性，定copy量分析。即可以bai分析合金裡面的相成分du和含量,可以測定晶格引數zhi,可以測定結構dao方向、含量，可以測定材料的內應力，材料晶體的大小等等。一般主要是用來分析合金裡面的相成分和含量。

樣品製備：

通常定量分析的樣品細度應在1微米左右，即應過320目篩。

sem是利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的資訊，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。主要是利用二次電子訊號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。

tem用於分析顯微成分的附件有幾種

2樓：匿名使用者

電子是實物粒子（靜止質量不為0的微觀粒子），根據德布羅意的物質波理論，實物粒子也具有波粒二象性。實物粒子的波動性可由下方程描述：

上式中：h為布朗克常數，p為粒子的動量，m為粒子的質量，v為粒子的速度。

因此，在任何情況下，電子的波長是由其速度決定的（電子本身的質量是不變的）。

在顯微鏡等利用電子束的裝置中：利用電子槍中陰極所產生的電子在陰陽極間的高壓（25-300kv）加速電場作用下被加速至很高的速度（0.3-0.

7倍光速）。也即通過控制電場強度，控制電子的速度，進而控制電子的波長。

sem用於分析顯微成分的附件有幾種

3樓：匿名使用者

q :用sem中的eds做元素面掃描，其反映的是多少深度的資訊？專re:

分析深度取決於樣品本性和選屬用的引數，不同的加速電壓，穿透深度不一樣，電壓越高，x射線激發深度越深 ,通常5kv一個單位入射深度2-3個mirc. 電壓強度越高入射深度越強. 輕元素比較深，重元素相對較淺。

具體書上有公式計算。和加速電壓，元素的吸收係數等有關係。一般在幾微米左右，重元素可能在幾百奈米。